技術文章
圖像法與激光法是顆粒粒度分析的主流技術,核心差異在于圖像法直接觀測顆粒形貌,激光法通過光散射反演粒徑。二者在原理、功能、應用場景上各有優勢,以下從三方面詳細對比:
形貌同步分析:可同時測粒度與粒形的技術,輸出長徑、短徑、圓度、凸度等參數,適配不規則顆粒。
數量分布統計:單顆粒獨立計數,無體積加權偏差,能精準反映細小顆粒占比。
直觀可視化:可查看原始顆粒圖像,便于驗證團聚、破碎等狀態。
局限性:測量范圍 0.1μm-16mm,納米級精度不足;測試速度慢,單次需數分鐘,依賴顆粒分散度。
寬量程快速測量:范圍 0.01μm-4mm,覆蓋納米至毫米級,單次測試 10-30 秒,適配批量檢測。
高重復性與穩定性:自動化程度高,干法 / 濕法兼容,抗環境干擾,適合在線監測。
體積分布輸出:以體積加權,對大顆粒敏感,適配粉體流動性、堆積密度等與體積相關的性能評估。
局限性:假設顆粒為球形,不規則顆粒會導致粒徑偏差;無法提供形貌信息,細小顆粒易被大顆粒信號掩蓋。
制藥:片劑原料、微球的形狀與粒度同步檢測,把控溶解性與穩定性。
新材料:3D 打印金屬粉末、鋰電池正極材料,檢測球形度與長徑比,優化性能。
地質與建材:沉積物、磨料、陶瓷顆粒,分析顆粒形態對堆積、流動性的影響。
優勢場景:不規則顆粒、針狀 / 片狀顆粒、需單顆粒溯源的質量控制。
化工與涂料:顏料、填料、乳液,控制粒度分布以保障色澤、穩定性與施工性。
建材與水泥:水泥、粉煤灰、砂石,檢測細度與級配,指導生產配比。
納米材料:量子點、納米粉體、脂質體,精準測量納米級粒徑分布。
優勢場景:球形或近球形顆粒、大批量樣品、生產線在線監測、納米級粒度分析。
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